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测试测量座谈
2010年12月23日
10:00--12:00
嵌入式产品测试解决方案
简 介:
近些年来,嵌入式产业发展迅猛,嵌入式系统产品正不断渗透各个行业。随着嵌入式系统应用的不断深入和产业化程度的不断提升,对嵌入式产品质量 提出了更加严格的要求。嵌入式测试 成为一项极为重要的工作。 通过本次研讨会,您将了解到: 1.嵌入式产品测试过程(融合CMMI/ISO26262的体系要求) &nbs..
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2010年8月24日
10:00--12:30
泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案
简 介:
DDR目前正在逐渐渗透到计算机行业,通讯行业和消费电子行业的各个领域,随着DDR产品的更新换代和速度的提升,DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 如何理解DDR物理层和协议层原理,如何对DDR数据进行读写分离,如何对DDR进行自动化测试,如何灵活地精确地探测BGA封装的DDR信号,如何对DDR的协议层进行分析,如何对PCB板件做阻抗和..
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2010年6月24日
10:00--12:00
数据采集(DAQ)未来技术展望
简 介:
基于PC的数据采集(DAQ)将软硬件相结合,提供了一个灵活的、用户自定义的系统,高效实现采集、分析与显示。但随着各种商业可用技术的不断发展(FPGA、多核以及PXIe等),数据采集也实现了演化,未来的数据采集技术将远远超出你的想象,并被用于各种新兴的应用领域中。在本讲座中,您将领略NI作为全球DAQ技术与市场的领跑者,对于未来的数据采集发展是如何..
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