在线座谈

测试测量座谈

• 2011年6月21日

  10:00--12:00

  

  • 超快速IV测试技术 – 半导体器件特性测试的变革
  • 简 介： 本研讨会介绍了吉时利仪器最新的超快速IV测量技术（Ultra-Fast IV），及其如何影响最新的半导体器件特性表征。通过使用超快速IV量测技术，我们的用户可以得到以往无法得到但却至关重要的器件特性。 这一技术尤其对于那些在半导体器件研究前沿的客户（如High-K材料，SOI工艺，有机半导体体，新型存储器件，纳米器件等）尤为重要。
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• 2011年5月24日

  10:00--12:00

  

  • 高亮度LED电气测试挑战和解决方案
  • 简 介： 随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,才能更清楚的知道如何克服测试误差。 通过此次研讨会大家可以更清楚的了解以下问题: 1. LED自发热..
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• 2010年12月23日

  10:00--12:00

  

  • 嵌入式产品测试解决方案
  • 简 介： 近些年来，嵌入式产业发展迅猛，嵌入式系统产品正不断渗透各个行业。随着嵌入式系统应用的不断深入和产业化程度的不断提升，对嵌入式产品质量 提出了更加严格的要求。嵌入式测试 成为一项极为重要的工作。 通过本次研讨会，您将了解到：     1.嵌入式产品测试过程（融合CMMI/ISO26262的体系要求）    &nbs..
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