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测试测量座谈
2008年4月17日
10:00--12:00
简化DDR调试和验证测试
简 介:
您是否在为存储系统设计和测试流程寻找新的平台?试试泰克完善的测试和测量工具系列,它们将帮助您更迅速识别和解决极具挑战性的设计问题。 人们对速度更快、能耗更低、容量更高、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高。这要求测试仪器拥有杰出的信号捕获功能、测量精度、强大的触发和高性能探测功能才能胜任存储系统验证和调试的挑..
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2007年12月19日
10:00--12:00
电流测量的原理和产品
简 介:
电流的检测在电路设计中是非常普遍的,最常见的是的在使用充电池系统中,必须要对电流进行监测,以保证电池充放电的安全;另外,在马达控制/变频器的应用中,也会以电流的测控,作为对输出功率的直接控制。在很多不同的应用中,电流的测量都起到对系统的安全、功能、或状态的直接反映。 本次讲座会讨论一些比较常用的电流测量方法,并介绍德州仪器..
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2007年10月25日
10:00--12:00
第二代PCI-Express技术演化及一致性测试发展网上研讨会
简 介:
PCI-Express是第三代的I/O架构,为不断增长的I/O带宽需求提供了点到点、高速的、少的连接引脚。同时,这种新的互连技术会对一致性设计和测试带来新的挑战。第二代的PCI-Express的数据传输率高达5GT/s,将会在未来覆盖不仅计算机行业的大多数的高速数传应用。我们如何去应对速度如此之高的串行数据的一致性测试,是摆在我们广大研发和测试工程师面前的重大课..
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