在线座谈

测试测量座谈

• 2010年8月24日

  10:00--12:30

  

  • 泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案
  • 简 介： DDR目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 如何理解DDR物理层和协议层原理，如何对DDR数据进行读写分离，如何对DDR进行自动化测试，如何灵活地精确地探测BGA封装的DDR信号，如何对DDR的协议层进行分析，如何对PCB板件做阻抗和..
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• 2010年6月24日

  10:00--12:00

  

  • 数据采集（DAQ）未来技术展望
  • 简 介： 基于PC的数据采集（DAQ）将软硬件相结合，提供了一个灵活的、用户自定义的系统，高效实现采集、分析与显示。但随着各种商业可用技术的不断发展（FPGA、多核以及PXIe等），数据采集也实现了演化，未来的数据采集技术将远远超出你的想象，并被用于各种新兴的应用领域中。在本讲座中，您将领略NI作为全球DAQ技术与市场的领跑者，对于未来的数据采集发展是如何..
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• 2009年3月11日

  10:00--12:00

  

  • 泰克DPO/DSA70000B示波器系列产品引领下一代高速串行测试网上研讨会
  • 简 介： 在当今的电子产品研发过程中，各种日新月异的高速数据传输接口层出不穷。能否在产品中高效率、高质量的应用这些技术，并在最短的时间内推向市场，成为各家芯片、电子设备以及系统集成商所关心的问题。Tektronix立足于高速电路测试提供商领导者地位，提供性能优异的测试设备及方案，帮助客户高效、准确的完成繁重的测试任务。     ..
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