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测试测量座谈
2014年6月25日
10:00--12:00
满足高速吞吐量的需求:如何对半导体生产测试测量进行优化
简 介:
半导体器件测试对测试工程师的挑战在于,如何在确保精确度的情况下,最大化测试产能。高电流和高电压是目前半导体器件测试的崭新挑战。在这次研讨会中,我们能够学到:高速而精准的半导体器件和材料测试;通过正确选择测试电缆确保最佳低电平测量的精准度;使用内置测试脚本和并行测试系统优化量产测试及数据分析;深刻理解在高压测试系统中,四象限源表在..
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2014年4月29日
10:00--12:00
如何更简便的进行材料研究和器件设计测量
简 介:
20年前吉时利开启了源表的先河,并开始在该领域不断的探索。2013年首款触摸屏数字源表2450上市,为适应所有这些市场及用户变化,Model 2450包含大量易于使用的特性,确保比竞争解决方案能够更快提供答案,包括基于上下文的帮助功能,加快仪器配置的“Quickset”(快速设置)模式,以及将原始数据快速转变为可用结果的屏幕上绘图功能。 研讨..
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2013年11月27日
10:00--12:00
提高测量精度的七大技巧
简 介:
数据采集是工程应用中基础技术之一,无论是神舟九号飞船上针对各种运行状态的监测还是生产线上对各种电路板信号的测量,数据采集都发挥着巨大作用,而其测量结果是否精确有效往往关系着整个工程项目的成败。本场研讨会,NI资深工程师将与您探讨提高测量精度的七大技巧,内容涉及传感器技术,隔离屏蔽技术,硬件指标考量,后端信号处理等,研讨会还将结合实..
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