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TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。
SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)
DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

有这样的可能

- 孙谨
- 研华嵌入式物联网平台事业群华东区业务经理
- 2013年加入研华科技，目前负责研华模块化电脑（COM）在华东区的销售，多年在医疗、军工、通信、自动化等行业深耕客户，与众多国际和国内头部企业有深度合作，对模块化电脑的产品及应用都有深刻理解。
- 林俊
- 研华嵌入式物联网平台事业群行业经理
- 在电子制造行业拥有超过5年的市场推广和项目管理实践经验，曾任职于国内知名电子元器件供应商，从事产品推广及客户开发工作。目前在研华主要负责模块化电脑产品在中国区域的相关行业，如网络通讯、半导体制造、人工智能等领域的深耕和开发工作。
- 肖健萍
- 研华嵌入式物联网平台事业群销售总监
- 在工控行业拥有近20年的产品推广和大客户管理经验，负责研华中国区域模块化电脑（COM）的产品销售。带领研华COM团队十余年间专注中国市场开发，建立了设计协助服务销售模式，并组建了快速响应的本地化服务团队，以降低客户的开发难度与投入，加速客户产品的上市。
- 张明星
- 研华嵌入式运算核心事业群产品经理
- 在研华嵌入式运算核心事业群负责ADS&DTOS（客制化）两条产品线的规划，新品开发以及推广工作。曾在MSI做项目经理，负责NPI新品开发导入；在IPC领域拥有7年的工作经验。

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