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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 张一峰
    • ADI产品市场经理
    • 张一峰, ADI 产品市场经理,负责ADI 亚太区能源、电机控制、机器人领域产品市场营销和方案推广。 曾任硬件开发、高级应用工程师、技术市场经理等职位,硕士毕业于复旦大学电子信息工程系, 十五年以上半导体等相关从业经验。
    • 俞泳波
    • ADI中国技术中心应用工程师
    • 硕士毕业于中国科学技术大学微电子学院,现为ADI中国技术中心应用工程师,主要负责电能计量IC、运算放大器和基准源等精密信号链产品。
    • 任兵
    • ADI云计算及数据中心电源产品首席应用工程师
    • ADI云计算及数据中心电源产品首席应用工程师,先后就职于TI,Maxim及ADI, 从事电源产品开发及应用支持。
    • Ryan Boyle
    • 消费电子音频解决方案音频市场经理
    • Ryan拥有马萨诸塞大学洛厄尔分校电气工程学位,辅修音频录制技术。在加入ADI公司之前,他在Bose Automotive Systems工作,从事产品营销和概念开发相关工作。他终身热衷于音频和音乐。