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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 詹振辉
    • 飞兆半导体PCIA部门产品线经理
    • 詹振辉为飞兆半导体功率转换IC 的产品线经理,面向用于PC 电源、笔记本电脑适配器、打印机电源、充电器和电源适配器等的AC-DC 功率IC 的解决方案。 詹振辉为台湾交通大学工业工程与管理系和控制工程学士、台湾科技大学电子工程研究所硕士,并持有美国宾夕凡尼亚州州立大学MBA学位。
    • 何豁然
    • 高级技术行销工程师
    • 2005年毕业于南京航空航天大学电力电子专业,获得硕士学位。2008年加入飞兆半导体,担任新产品定义工程师。一年后转入技术行销部门,负责移动产品电源芯片的市场推销,产品调研,以及市场趋势研究等。
    • 张定一
    • 应用副经理
    • 张定一于2006年加入飞兆半导体公司,一直从事通信电源和便携式产品电源的技术支持工作,在长期的工作中积累了丰富的理论和现场调试经验。1992年毕业于浙江大学,电气技术专业。