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主题：泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。
SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)
DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

有这样的可能

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- 宣晓鸣
- 飞思卡尔半导体汽车电子部技术市场工程师
- 负责中国区车载半导体尤其是单片机产品的推广。在加入飞思卡尔半导体之前，宣晓鸣在瑞萨电子（上海）有限公司及柯达（中国）投资有限公司任职，从事半导体的市场推广及医疗设备的研发工作，熟悉各种主流单片机产品性能。宣晓鸣拥有上海交通大学学士学位。
- 贾飒爽
- 应用工程师
- 5年软/硬件研发经验（MCU, ARM, SENSOR, FPGA），1年产品推广及相关经验。现就职于飞思卡尔半导体，负责消费类及工业用加速度，地磁，触摸传感器在亚太地区的产品应用及推广。 2007年毕业于江南大学控制理论与控制工程专业, 硕士学位
- 郭培栋
- 产品应用经理
- 现任职于飞思卡尔半导体，负责消费类及工业用压力传感器在亚太地区的产品应用及推广。拥有近15年压力相关产品的研发及应用经验，产品类型包括压力开关、压力变送器和压力传感器，涉及消费类，工业及汽车等多个领域。历任森萨塔科技产品设计工程师、上海自动化仪表股份有限公司产品研发工程师。 1997年毕业于上海大学自动化学院, 学士学位。
- 周序伟
- 应用工程师
- 毕业于上海交通大学电力电子与电力传动专业，工学硕士，目前就职于飞思卡尔半导体担任工业与多市场方案部应用工程师职位，主要负责微控制器产品在电机控制领域的应用研究。

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