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精彩问答

主题:ADI助力半导体自动测试设备成长--ATE 产品线介绍

  • ADI有哪些半导体自动测试设备的方案?

    主要针对数模混合型芯片的测试方案

  • ADI在半导体自动测试方面的创新点?

    在数模混合芯片的测试,单板集成度有很大优势

  • 有哪些具体案例?

    目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用,包括摄像头,MCU,LED等

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专家

    • 黄越伟
    • FAE
    • 2005年毕业于西安理工大学,获控制理论与控制工程硕士学位,2008年加入SPANSION,有3年软件设计和5年FLASH技术支持经验