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精彩问答

主题：泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

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  TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

  TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  
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  SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

  片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  
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  DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

  有这样的可能

  

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专家

• 
  • 武峰
  • 泰克公司技术支持经理 视频测试产品部
  • 1995年毕业于中国科技大学电子工程专业。 1995年至1999年任职于上海贝尔,从事通讯测试工作。 1999年加入泰克公司至今从事视频测试工作,对于数字电视测试积累了丰富的相关经验。
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  • 赵凯
  • 泰克公司高级应用工程师
  • 2001年毕业于北京航空航天大学电子工程系， 在通信行业拥有5年的高速数字系统设计和信号完整性测试和分析经验。现在的职位是泰克科技（中国）有限公司的高级应用工程师，主要负责对通信和计算机领域的客户，提供高速总线的信号完整性测试和分析解决方案。
• 
  • 张欣
  • 设计与制造测试仪器产品部高级应用工程师
  • 张欣先生2005年毕业于电子科技大学自动化工程学院，拥有硕士研究生学历。曾从事3G基站测试，目前在泰克科技（中国）有限公司设计与制造测试仪器产品部担任高级应用工程师。主要负责泰克测试仪器及方案在北方工业界的售前支持和推广工作。  
• 
  • 苏水金
  • 高级客户技术支持经理
  • 2000年毕业于哈尔滨工业大学自动化测试与控制系，硕士研究生学历。曾从事无线电计量测试研究，自动化测试程序的开发，通信和雷达测试以及信号处理的研究。目前在泰克科技（中国）有限公司设计与制造测试仪器产品部担任高级应用工程师，主要负责泰克高端示波器，逻辑分析仪，任意波形产生器，误码分析仪，TDR时域反射计等产品测试技术应用开发，提供RF信号测..

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