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热门关键字: 电磁兼容 工业控制系统 固态继电器 串行外设接口 

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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 张卫华
    • KEITHLEY资深应用工程师,精密电子工业市场开发经理
    • 丰富的测试测量经验,在KEITHLEY工作超过六年。精通软硬件的设计开发,曾设计过很多工业测试系统。
    • 顾轶峰
    • 应用工程师
    • 2004年毕业于上海交通大学测控技术与仪器系。 2006年加入美国吉时利仪器上海办事处,主要负责吉时利仪器半导体参数测试系统,半导体参数分析仪的技术支持工作。
    • 赵咏梅
    • 应用工程师经理
    • 于1997年7月毕业于上海交通大学信息与控制工程专业,获工科学士;2004年3月获上海交通大学工学硕士。先后任职于上海交通大学,泰瑞达(上海)有限公司。于2007年加盟吉时利公司,任应用工程师经理。
    • 陈思豪
    • 资深应用工程师
    • 交通大学显示所。现任美国吉时利仪器台湾分公司资深应用工程师,负责处理客户应用上以及售后服务的问题。在半导体及面板产业有多年经验,深入了解客户在测试上的需求,于2008年加入美国吉时利仪器台湾分公司。