在线座谈

热门关键字: PCI OPC C接口 嵌入式微控制器 

在线座谈 > 热搜词大全 > 测试

精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

《 进入座谈详情

专家

    • Sheldon Shi
    • Stratasys售前及应用工程师
    • Sheldon毕业于俄亥俄州立大学工业设计系,在加入Stratasys之前,他曾担任产品设计师。他对于三维软件的使用以及3D打印机的操作有着丰富的经验,同时,对于3D打印行业的应用,以及3D打印技术如何与设计更好地结合有深刻的见解。
    • Barney Zhang
    • Stratasys售前技术和应用工程师
    • 上海师范大学工业设计系毕业。2013年加入Stratasys,担任售前技术和应用工程师,对于增材制造领域的专业知识有较深的积累。之前曾就职于软银旗下Aldebaran Robotics公司。