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• 2022年11月16日

  10:00~11:30

  

  • 使用多物理场仿真评估 PCB 与射频器件的电磁性能
  • 简 介：在5G、物联网、雷达以及RFID系统等应用领域中，准确地评估PCB电路板的电磁性能至关重要。在生产与测试电路板之前，利用电磁仿真工具对其进行评估，有助于缩短开发周期，节约成本。 本场活动将与大家一起分享如何使用COMSOL多物理场仿真软件评估从kHz到GHz频率的PCB电路板的电磁性能，以及不同频率下的不同研究方法，说明如何通过仿真来指导设..
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• 2022年9月20日

  10:00~12:00

  

  • 助力精准检测——用于半导体测试设备的欧姆龙继电器·连接器解决方案
  • 简 介：针对传统半导体测试中存在的测试板设计周期长，测试板空间不能满足多功能测试的高集成度要求，以及后期维护成本高等难题，欧姆龙提供小封装，低漏电流，免维护的T型结构光敏半导体MOS FET模组，助您解决上述问题。 通过本次研讨会，我们还将介绍其他多款欧姆龙光敏半导体MOS FET和高频继电器产品。 其中包括： 1.半导体测试设备行..
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• 2022年6月8日

  14:00~16:00

  

  • 新型8.5位数字多用表技术发展及应用
  • 简 介：高精度数字多用表在20世纪80年代中后期开始应用于电子测量领域，成为直流和低频交流电学计量的首选测量工具。具有多种功能精度高且易于实现系统自动化，可以轻松取代检零器等，但是其直流输入放大器并没有完全匹配检零器特性所需的特定设计。在某些关键方面，高精度数字多用表具有一定的缺陷，其中一个关键问题是仪器的输入偏置电流。输入偏置电流来源于高..
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• 2022年5月19日

  14:00~15:30

  

  • 恩智浦交错并联式Boost PFC+无感FOC控制系统介绍
  • 简 介：随着对电能质量要求的不断提高，功率因数校正技术越来越多地应用于家电和工业领域。本次讲座介绍基于单颗恩智浦DSC控制器，实现两相交错并联式Boost PFC+PMSM无位置传感器FOC的数字控制方案。得益于DSC面向电机/电源应用的强大外设和NXP灵活的控制算法，该方案具有高功率因数，快速动态响应，低THD和高集成度等优点。通过引入“打嗝”机制，系统轻载效率得..
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• 2021年6月10日

  14:00~16:00

  

  • 新一代毫米波雷达关键技术及设计要点
  • 简 介：随着L2+自动驾驶等级的车型不断推出，市场上对于高性能的4D毫米波雷达需求也在日益增长。基于传感器提供的目标数据，高质量、高精度、大数量的检测点数据是自动驾驶系统决策层所必须的。对于毫米波雷达传感器来说，更大的FOV（视场角）和角度分辨能力，是判断一款雷达性能优劣的必要指标。凭借出色的测距测速测角能力，毫米波雷达被广泛地应用在自适应巡航..
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• 2021年1月13日

  14:00~16:00

  

  • Infineon、MuRata和Arrow一站式物联网解决方案
  • 简 介：做为一站式物联网（IoT）解决方案生态系统中的合作伙伴，英飞凌（Infineon）、村田制作所（MuRata）和艾睿电子（Arrow）很荣幸能够在本次网络研讨会上，展示其最新的物联网技术、产品和解决方案。 英飞凌将分享包括802.11n/11ac和11ax高性能的WiFi&BT芯片组在内的IC芯片，尤其是采用28nm工艺的超低功耗CYW43012。英飞凌能够提供涵盖物联网及其无..
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• 2020年12月8日

  10:00~12:00

  

  • 新基建风口下Arrow如何助力客户快速地实现智能联网和车路协同
  • 简 介：汽车的网联化和车路协同是汽车智能化的必由之路， 在新基建的风口下， Arrow 联合NXP, Molex, Vishay 共同打造推出了TBOX/RSU/OBU应用参考设计方案和相关的硬件软件配套支持服务， 以期助力客户快速地实现智能联网和车路协同产品，在这次网上研讨会 , 您将会了解到以下内容： ARROW :智能联网和车路协同方案介绍 • 智能网联和车路协同的市..
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• 2020年10月22日

  10:00~11:30

  

  • 仪器仪表级毫米波信号链
  • 简 介：5G和毫米波技术正在扩展到许多应用中。仪器仪表和测试解决方案对此迅速增长的市场需求很大。在此在线研讨会中，我们将介绍可靠的毫米波信号链解决方案，可用于通过ADI公司先进的电路表征和测试毫米波器件。我们还通过将误差矢量幅度(EVM)用作测试指标来优化信号链。 关注ADI智库，获取更多资讯
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• 2020年9月23日

  14:00~16:00

  

  • ADI助力半导体自动测试设备成长--ATE 产品线介绍
  • 简 介：半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其中，测试机是检测芯片功能和性能的专用设备。 对于需要高性能、高性价比解决方案的 IC 测试应用，ADI 提供整体的解决方案包括集成式引脚电子器件 (PE)、器件电源 (DPS) 和参数测量单元 (PMU)。这些特定于 ATE 应用的产品以及 ADI 标准产品的各种组合能够为客户提供满足各种测试要求的解决方案。 ..
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• 2020年9月15日

  10:00~12:00

  

  • NXP-MuRata-Arrow 一站式物联网的解决方案
  • 简 介：做为一站式物联网（IoT）解决方案生态系统中的合作伙伴，恩智浦（NXP）、村田制作所（MuRata）和艾睿电子（Arrow）很荣幸在此网络研讨会上展示其最新的物联网技术、产品和解决方案。 恩智浦将在IC芯片级别上分享包括面向大众市场的互联物联网产品线路线图，以及具有关键驱动因素、大众市场战略，以及支持产品（如模块、i.mx平台软件开发套件、技术支..
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