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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 窦祥峰
    • 京微雅格市场总监
    • 窦祥峰在FPGA领域具有丰富的工作经验。2001-2010 在艾睿电子任高级技术工程师,负责ALTERA产品线推广。对通信,广播方面的FPGA应用有非常深刻的技术理解。 2010-2012 在SILICONBLUE 任产品经理,负责策略客户开发及方案制定。2012年加入京微雅格,负责公司产品战略以及发展规划。
    • 樊平
    • 前端软件解决方案部高级软件经理
    • 樊平,现任京微雅格公司前端软件解决方案部高级软件经理,主持研发逻辑综合、工艺映射与时序收敛等工具。拥有北京航空航天大学计算机硕士与学士学位。曾在IBM中国研发中心与Cadence北京研发中心分别担任软件工程师与资深软件工程师。在逻辑综合、高性能仿真软件研发与形式化语言处理方面拥有丰富经验。