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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 崔广智
    • 德州仪器电源系统工程师
    • 主要负责工业电源系统方案设计,提供半导体电源系统方案设计及客户技术支持。
    • Bill Xu
    • Bill Xu德州仪器系统工程团队(SEM)医疗影像系统工程师(Medical-Imaging)。主要工作方向为成像系统电子线路设计与技术方案支持,涵盖超声成像,x线与CT成像、磁共振成像系统、PET成像系统等医疗影像系统软硬件设计与技术方案支持。目前主要为医疗影像客户提供各种参考设计方案。
    • Rogelio Armino
    • 德州仪器系统工程团队(SEM)医疗团队系统工程师。主要工作方向为医疗可穿戴设备的相关系统设计,包含连续血糖监测,ECG Patch & Holter,血压检测和血氧检测等应用设计方案。
    • Matthew Chen
    • 德州仪器系统工程团队(SEM)医疗团队系统工程师。主要工作方向为体外诊断相关系统设计,包含光信号链,电化学传感器,电机控制,TEC驱动控制和液位检测等应用设计方案。