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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 李章林
    • 总经理总工程师
    • 南开大学机器人研究所博士,现任上海卓岚信息科技有限公司总经理,总工程师。长期从事嵌入式系统、物联网通信技术的研究,是嵌入式网络通信方面的专家,是知名国产嵌入式TCP/IP协议栈——ZLIP的作者。在上海卓岚信息科技有限公司期间,基于嵌入式TCP/IP技术、P2P技术研发的产品处于国际领先水平,广泛应用于工业自动化、能源监控、物联网、智能家居等领域