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TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。
SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)
DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

有这样的可能

- 姜海涛
- 主讲老师
  ADI 仪器仪表事业部高级市场经理
- 主要负责 ADI 中国仪器仪表市场的业务开发，专注于向客户销售合适的解决方案，从而帮助客户加快产品上市，更好地利用 ADI 公司的先进技术。在 ADI 公司有超十八年的从业经验，担任过多种职务，包括现场应用工程师和经理、技术销售经理、分销管理、区域销售经理和市场营销经理。
- Lauren Lu(陆海阳)
- ADI公司中国技术支持中心高级应用工程师
- 硕士毕业于东南大学，现为ADI中国技术中心高级应用工程师，主要负责电源管理、监控、保护等相关产品的客户支持与技术培训。
- Frederik Dostal
- 电源管理专家
- 现任ADI公司电源管理专家，在ADI任职15年，并深耕电源管理领域，累计拥有23年丰富的行业经验。
- Sarvesh Pimpalkar
- ADI公司工业机器人系统应用工程师
- Sarvesh Pimpalkar是一名系统应用工程师，在ADI公司的工业边缘、运动和机器人团队工作，专注于研发移动机器人。他的专业领域是Linux和嵌入式系统的软件系统设计和产品开发。他拥有都柏林城市大学电子与计算机工程硕士学位和孟买大学电子工程学士学位。在加入ADI公司之前，Sarvesh曾担任设计工程师，负责开发各种工业产品的硬件、固件和自动化。

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