在线座谈

按技术类别点播

• 2008年6月18日

  10:00~12:00

  

  • 基于Intersil全桥ZVS控制器的高效DC-DC变换器设计
  • 简 介：在现代的电源中，ZVS拓朴需要实现高效率。在本次网上技术交流会上，Intersil的电源管理应用专家将会就在现代电源中实现高效率所需的ZVS拓朴技术进行探讨。      -- ZVS全桥变换器的操作原理      -- Intersil公司PWM ZVS拓朴与移相ZVS拓朴的比较      -- Intersil公司ISL675..
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• 2008年6月5日

  10:00~12:00

  

  • 高速、高增益的去补偿放大器
  • 简 介：去补偿放大器是一种独特的放大器，其特点是频率较高，而压摆率也较快，但缺点是有最低的增益规定。去补偿放大器若以低于数据表上规定的最低增益操作，便无法确保操作稳定。但我们不应该因为这个缺点而将之舍弃不用，令系统无法充分利用这种放大器的其他优点。我们只要正确使用去补偿放大器，便可充分发挥其优点。对总带宽/供电电流比有严格要求的高增益系统..
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• 2008年5月29日

  10:00~12:00

  

  • MIMO射频测试应用
  • 简 介：MIMO产品设计与制造所面临的巨大挑战,就是对OFDM WLAN信号等高精度信号的射频测量测试.您是否在射频测量测试中面临频率范围和射频信道带宽，多通道、衰落和信道响应模拟，多激励模拟同步和多响应测试同步的新挑战？那就请您参加由中电网和吉时利仪器公司共同举办的“MIMO射频测试应用”在线技术研讨会。吉时利的MIMO测试系统是从事WLAN和WiMAX设计与研发工..
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• 2008年5月27日

  10:00~12:00

  

  • 适用于背板的信号调整技术
  • 简 介：许多必须在不同模块之间传送信号的系统都广泛采用背板。虽然背板的结构较为简单，但若要确保系统能支持较高的数据传输率，便必须掌握许多设计上的窍门。这篇报告针对大部分的设计问题，解释如何利用信号调整电路解决有关问题。
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• 2008年5月20日

  10:00~12:00

  

  • 了解Altera 首推40-nm产品组合
  • 简 介：当今高端数字系统面临的挑战包括增强性能、降低功耗以及提高系统带宽和集成度等。Altera新的40-nm产品组合可以帮您战胜所有这些挑战，它包括Stratix? IV FPGA、HardCopy? IV ASIC、Quartus? II软件8.0以及支持知识产权(IP)等。 观看此次网播，学习以下内容： 这一40-nm产品组合是怎样解决系统集成、功耗和系统带宽问题的 Altera的代工线合作伙伴TSMC是怎..
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• 2008年5月9日

  10:00~12:00

  

  • 几分钟内可完成的触摸感应设计
  • 简 介：触摸感应正在成为一种潮流。无论是我们家里的冰箱、空调、洗衣机，办公室的笔记本、台式机，还是时尚青年手中的手机、MP3，抑或汽车里面的DVD、GPS，触摸感应方式几乎随处可见，以它的美观耐用吸引着大家。 使用基于Cypress PSoC的CapSense 产品，您就可以很灵活的实现触摸按键，滑条，触摸板等等设计，您的产品也将受到更多的人追捧。 在市场瞬息万变的..
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• 2008年5月8日

  10:00~12:00

  

  • 在恶劣环境中调理信号：关于数据转换器的滤波问题
  • 简 介：在许多应用中，都要求在大噪声环境中测量或产生干净且精确的信号。在本次研讨会中，我们将就如何在数据转换应用中实现特定的滤波性能，讨论多种设计方案、实例和及其相关的问题，包括无源vs有源、模拟vs数字、信号链路中滤波器的位置、支路的设计规则，以及滤波器和用于构造它的元器件的限制。本次研讨会还将介绍一些在线设计工具，有助于确定数据转换器的..
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• 2008年4月24日

  10:00~12:00

  

  • 飞思卡尔为您提供业内最具超高精度与灵活性的电池充电解决方案
  • 简 介：大多数便携式电子设备内部都使用锂离子或锂聚合物电池作为电源并需要重复充电才能连续使用和携带。锂离子或锂聚合物电池的充电过程需要有涓流，恒流和恒压模式。充电过程中，电压和电流应当精确控制。基于SMARTMOS技术，飞思卡尔提供超高精度电池充电器解决方案，以简化系统设计和减少外部元件，使产品体积极小，而成本下降。同时飞思卡尔的电池充电器集成..
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• 2008年4月18日

  10:00~12:00

  

  • 嵌入式系统中的USB方案介绍
  • 简 介：USB已经普遍成为连接设备与计算机的重要媒介。USB快速替代了如RS-323和UART等通讯接口，并成为首选的通讯方式。虽然其通讯协议非常复杂，而易用的特征吸引着越来越多的用户在产品中使用USB。我们将通过USB网络研讨会告诉您如何在新项目开发中使用USB。
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• 2008年4月17日

  10:00~12:00

  

  • 简化DDR调试和验证测试
  • 简 介：您是否在为存储系统设计和测试流程寻找新的平台？试试泰克完善的测试和测量工具系列，它们将帮助您更迅速识别和解决极具挑战性的设计问题。 人们对速度更快、能耗更低、容量更高、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高。这要求测试仪器拥有杰出的信号捕获功能、测量精度、强大的触发和高性能探测功能才能胜任存储系统验证和调试的挑战。泰克..
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