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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • Henry Yang
    • 安森美模拟与混合信号事业部业务拓展高级经理
    • 余建
    • 安森美-技术市场部高级经理
    • 余建先生是一位拥有超过20年经验的资深市场营销专家,专注于工业和电力转换应用领域。他目前在安森美半导体担任电力解决方案部的高级市场经理。
    • Austin Shang
    • 安森美系统方案工程师
    • Austin Shang就职于安森美AMG事业部,为客户提供turn-key解决方案,方案涉及10Bsae-T1S,Auto Lighting, BLE等应用。 Austin Shang有20多年的半导体行业工作经验,专注于方案设计和固件开发。
    • Daniel Bu
    • 应用工程师