2004年6月29日
10:00~12:00
2004年4月29日
10:00~12:00
2004年3月25日
10:00~12:00
2004年2月26日
10:00~12:00
2003年7月30日
10:00~12:00
2003年4月23日
10:00~12:00
ADI有哪些半导体自动测试设备的方案?
主要针对数模混合型芯片的测试方案
ADI在半导体自动测试方面的创新点?
在数模混合芯片的测试,单板集成度有很大优势
有哪些具体案例?
目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用,包括摄像头,MCU,LED等