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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 郭玉喜
    • 大中华区ID产品经理
    • 计算机专业和工商管理专业毕业, 8年ID行业从业经验, 现任康耐视大中华区ID产品经理,主要负责ID产品在大中华区的需求定位、新产品发布、推广以及新行业应用开拓。个人喜欢读书,旅行,运动(篮球,足球,游泳,登山等)。
    • 丁正勇
    • 康耐视大中华区培训工程师
    • 丁正勇,康耐视培训讲师,在康耐视5年多时间里一直从事视觉技术培训工作,为康耐视及代理商培养了众多视觉从业人员。对视觉产品及应用有独特的理解和感悟。