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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 答疑老师
      David Wang
    • 盛思锐FAE
    • 拥有多年传感器技术支持经验,凭借对传感器的专业理解和技术优势,为客户提供专业全面的技术支持。
    • 答疑老师
      Morgan Song
    • 盛思锐FAE经理
    • 从事传感器技术支持二十余年,现任Sensirion FAE Teamleader,拥有丰富的实践经验与技术沉淀,对环境传感器技术应用上有深层次的理解和应用心得。
    • 答疑老师
      Kevin Guo
    • 盛思锐FAE
    • 拥有多年传感器技术支持经验,凭借对传感器的专业理解和技术优势,为客户提供专业全面的技术支持。
    • 主讲老师
      Coco Sit
    • 高级销售经理
    • Coco深耕传感器领域多年,具备丰富的市场销售经验和深厚的产品知识储备。擅长运用市场分析和判断能力,为客户提供精准的传感器解决方案,推动公司产品在消费电子、工业自动化等多个领域的应用。