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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 林昌宏
    • 新唐科技工程师
    • 拥有多年的半导体行业工作经验,现任职于新唐科技台湾总公司,负责产品的市场技术支持工作。
    • 郝禹廸
    • 新唐科技工程师
    • 拥有多年的半导体行业工作经验,现任职于新唐科技台湾总公司,负责产品的技术支持与市场推广工作。
    • 黄俊豪
    • 新唐科技工程师
    • 拥有多年的半导体行业工作经验,现任职于新唐科技台湾总公司,负责产品的技术支持与市场推广工作。
    • 谢欣志
    • 新唐电子工程师
    • 拥有数年的IC设计和韧体撰写的半导体行业工作经验,现任职于新唐电子有限公司台湾总公司,负责产品的技术技持与市场推广工作。