热门关键字: ATM CTI 3D打印 矢量控制
2004年4月29日
10:00~12:00
ADI有哪些半导体自动测试设备的方案?
主要针对数模混合型芯片的测试方案
ADI在半导体自动测试方面的创新点?
在数模混合芯片的测试,单板集成度有很大优势
有哪些具体案例?
目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用,包括摄像头,MCU,LED等
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