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精彩问答

主题:ADI助力半导体自动测试设备成长--ATE 产品线介绍

  • ADI有哪些半导体自动测试设备的方案?

    主要针对数模混合型芯片的测试方案

  • ADI在半导体自动测试方面的创新点?

    在数模混合芯片的测试,单板集成度有很大优势

  • 有哪些具体案例?

    目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用,包括摄像头,MCU,LED等

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专家

    • 谢祖永
    • G-Wearables.LTD研发经理,资深研发工程师
    • 主要负责解决方案、技术培训、核心算法开发和技术支持等。在行业工作近9年,在传感器应用、数模混合信号系统,机光电集成系统领域有丰富的开发和研究经验。