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精彩问答

主题：泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

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  TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

  TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  
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  SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

  片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  
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  DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

  有这样的可能

  

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专家

• 
  • 王海波
  • 王海波先生为艾睿电子工业应用行业的工程师，主要负责马达控制，新能源，及汽车驱动等工业应用行业。在工业控制行业有5年的行业积累。
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  • 郑春
  • ARROW NANJING OFFICE FAE
  • 主要负责电机和电源相关行业的产品推广和支持工作，精通德州仪器相关产品线，特别是C2000系列产品。对电机控制，太阳能，充电桩等行业比较熟悉，在电子行业从业10年以上经验。
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  • 毛书慧
  • 高级应用工程师
  • 长期支持视频类客户的开发和设计,熟悉主流的视频接口的技术特点,有多年的FPGA调试经验.担任Arrow的高级应用工程师
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  • 李浩
  • 研发工程师
  • 毕业于北京航空航天大学，硕士研究生。从事嵌入式系统开发工作多年，有丰富的嵌入式系统开发经验，任北京艾睿合众科技有限公司研发工程师。

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