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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 阎金光
    • 首席技术培训师
    • 毕业于哈尔滨工程大学电子工程专业,早期工作于中国科学院沈阳科学仪器研制中心,从事线性及半桥开关电源产品的研发。2001年加入Power Integrations,作为高级技术应用支持工程师致力于开关电源IC的推广及应用工作。在对客户产品研发、生产提供技术支持的过程当中积累了丰富的现场及应用技术知识。目前工作于Power Integrations圣何塞总部,主要负责Power ..
    • 张学武
    • Power Integrations
      电机驱动FAE工程师
    • 负责BridgeSwitch产品的技术方案推广及支持。曾就职于FUTURE ELECTRONICS,从事技术解决方案的推广与支持;长期专注于空调,空气净化器,冰箱等家电产品中电机驱动方案的开发和推广。拥有丰富的产品软硬件研发,项目管理等工作经验。