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TLA5000系列用来测DDR1，在采样率，测试探点连接，夹具方面有什么不足，可以满足时序验证的要求吗？

TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。
SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的？外观上有什么区别没有，相对于DDRII来说。

片内终结电阻是在DRAM芯片内部的，和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)
DDR3在长期运行中，会不会出现过热而影响性能？

有这样的可能

- Eddie Ho
- 高级技术销售经理
- Eddie Ho 在半导体行业从业逾 20 年，在传感器和微控制器产品的市场营销和业务发展方面经验丰富。他目前是汽车与工业类产品的高级技术销售经理。Eddie 拥有理学学士和工商管理学硕士学位。
- 钟英东
- 钟英东是IDT公司无线电源领域的业务发展经理，他拥有10年以上通信基础设施和电力应用工程的经验。在加入IDT公司之前，他曾就职于NXP公司，担任应用工程师。 He is Business development manager at IDT focusing on Wireless Power market, Eric brings 10+ years of communication infrastructure and power application engineering experiences. ..
- 邝建超
- 资深现场应用工程师
- 成立于1980 年的Integrated Device Technology (IDT), 是一所致力以创新系统优化应用和用户体验的半导体公司。邝建超是IDT的资深现场应用工程师，拥有10年以上的半导体技术支持经验，对芯片和相关应用都有全面的知识。邝先生现在主要负责IDT的电源管理芯片、马达驱动和传感器信号调整芯片的技术支持。

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