在线座谈

热门关键字: 信息化 文本 隧道 调节器 

在线座谈 > 热搜词大全 > 测量

精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

《 进入座谈详情

专家

    • 郭立勋(Leeson Guo)
    • 益登科技(EDOM Technology)资深应用工程师
    • 拥有多年嵌入式产品硬件及微控制器工作经验,目前主要负责Silicon Labs产品线的技术应用和支持工作。在加入益登科技之前,从事过电能表研发工作,对产品EMC、EMI设计有良好的基础。并担任过Atmel产品的FAE,对半导体在各种电子领域中的应用都有普遍认识。
    • 潘成义
    • EDOM应用工程师专家
    • 乔丽
    • EDOM应用工程师专家
    • 徐克强
    • EDOM应用工程师专家