2013年1月30日
10:00~11:00
2012年12月26日
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2012年7月10日
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2011年10月26日
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2011年7月13日
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2010年11月17日
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2010年11月4日
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2010年4月27日
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2009年10月28日
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2009年9月24日
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ADI有哪些半导体自动测试设备的方案?
主要针对数模混合型芯片的测试方案
ADI在半导体自动测试方面的创新点?
在数模混合芯片的测试,单板集成度有很大优势
有哪些具体案例?
目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用,包括摄像头,MCU,LED等