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精彩问答

主题：超快速IV测试技术 – 半导体器件特性测试的变革

• 

  探头线阻是否进行了校正，校正方法是怎样的？

  我们有两个校正方式，一个是开路补偿，一个是短路补偿

  
• 

  4200-SCS所有的资料有中文文档的吗？

  目前还没有

  
• 

  4200-SCS自身电源对信号采集有干扰吗？

  4200的电源是来自于建筑物的电网的， 如果电网的接地有问题，就有可能会对测试产生影响。

  

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专家

• 
  • 张堃
  • 市场部高级经理
  • 富士通电子元器件（上海）有限公司高级产品经理，就职于富士通电子元器件（上海）有限公司市场部，负责富士通FRAM/RFID和MCU嵌入式的产品规划和市场推广，以及大中国市场的业务。拥有10多年的电子行业从业经验，先后从事过MEMORY & MCU嵌入式产品的研发，技术支持和应用推广工作。
• 
  • 孙国伟
  • FAE
  • 从事半导体行业多年，拥有丰富的行业技术经验，主要方向电源管理芯片及功率器件的应用。加入富士通半导体之后，从事电源管理芯片以及功率器件的技术支持工作。
• 
  • David Du
  • 现场应用高级经理
  • 现任富士通半导体（上海）有限公司FAE部门现场应用经理，主要负责华东，华中地区富士通单片机及汽车电子相关产品（如图形控制芯片等）的技术支持与业务拓展。从事单片机技术支持工作多年，拥有丰富的专业经验，熟悉富士通各系列单片机产品。拥有东华大学机械电子专业硕士学位。
• 
  • 赵辉
  • 高级产品工程师
  • 现任富士通半导体（上海）有限公司市场部高级产品工程师，主要负责中国地区富士通单片机相关产品的市场推广。

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