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热门关键字: 嵌入式微处理器 电磁兼容性 三极管 电磁波 

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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • 赵明飞
    • 技术合作顾问
    • 赵明飞 北京中电网信息技术有限公司技术合作顾问,西安交通大学微电子校友会理事。毕业于西安交大电气学院先后任职于国家电网电力科学研究院和南瑞集团公司。拥有13年的传感器设计、主站及嵌入式开发经验,7年管理经验。 2013年,创立北京驰光科技有限公司,从事冷链物流监控产品研发。2014年,专注于低功耗广域网技术开发,带领一只国内最早从事LoRa技术..