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精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

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专家

    • Vincent Li
    • Maxim高级工程师
    • 主要负责Maxim电源产品的技术支持以及电源参考设计的开发,有五年的开关电源研发经验。
    • 辛毅
    • Maxim TTS应用工程师
    • Maxim TTS应用工程师,负责Maxim产品的技术支持与培训,从事对日本的技术支持。于2018年加入Maxim,毕业于香港中文大学和复旦大学,分别获得理学硕士和理学学士学位。
    • 贾宁
    • 技术支持工程师
    • 美信公司技术支持工程师,负责信号链相关产品和应用的技术支持。2007年研究生毕业于北京邮电大学通信工程专业。2018年加入美信公司。
    • 方良
    • 美信公司Core Product Group 事业部资深应用工程师
    • 方良现为美信公司Core Product Group 事业部资深应用工程师,主要负责解决方案、技术培训、技术支持等。在行业工作近8年,重点关注工业和医疗应用,熟悉模拟和数模混合集成产品电路及应用