在线座谈

热门关键字: 信息化 文本 隧道 调节器 

在线座谈 > 热搜词大全 > 信号

精彩问答

主题:泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案

  • TLA5000系列用来测DDR1,在采样率,测试探点连接,夹具方面有什么不足,可以满足时序验证的要求吗?

    TLA5000采样率可以到2GS/s, 可以支持的状态分析时钟是235M.可以支持DDR1的测试。但是只能手动的方法去采集和手动的解码。因为TLA5000不知道DDR分析软件的安装。

  • SO-DIMMDDRIII的片内终结在电路板上是如何实现的?外观上有什么区别没有,相对于DDRII来说。

    片内终结电阻是在DRAM芯片内部的,和电路板没有关系的。而控制片内终结电阻的选择的是MCH(内存控制器)

  • DDR3在长期运行中,会不会出现过热而影响性能?

    有这样的可能

《 进入座谈详情

专家

    • 张桂荣
    • 客户经理
    • 张桂荣先生现任英特矽尔客户经理,负责公司产品和解决方案在中国区的市场需求促进及业务拓展活动。张桂荣先生在音响及数字信息处理领域拥有超过10年的工作经验。张先生毕业于香港中文大学,拥有电子工程学士学位(BSEE)。
    • Liwin Shu
    • 深圳代表处 FAE
    • 2005.6 华中科技大学 获硕士学位 2005.6 - 2008.9 艾默生网络能源公司 电源开发工程师 2008.9 –至今 英特矽尔公司深圳代表处 FAE
    • Fan Feng
    • Senior FAE 英特矽尔半导体中国有限公司
    • 2005年毕业于华中科技大学,获生物物理学理学硕士学位。 2005-2007通用电气医疗系统(中国)有限公司 研发工程师。 2008-至今 英特矽尔半导体中国有限公司 现场应用工程师。