ADI助力半导体自动测试设备成长--ATE 产品线介绍- Analog Devices Excelpoint世健厂商_在线座谈

精彩问答

[问:]	ADI的解决方案可以应用在MCU芯片上的测试吗？
[答:]	可以
[问:]	ADI 的测试是基于静态测试吗？测试IC处于工作模式时可以动态测试吗？
[答:]	可以
[问:]	PE产品主要应用在哪些领域？
[答:]	MCU/存储芯片/CPU/SOIC等等
[问:]	ADI在国内的合作伙伴有哪些？
[答:]	可以联系世健的FAE，谢谢！
[问:]	无锡这边如何联系技术支持？
[答:]	世健无锡FAE 陈工 15061851831
[问:]	ADI PE产品量产的主要是哪些？哪些可以提供样品？
[答:]	ADATE318/ADATE320 ，可以提供样品，可联系世健FAE
[问:]	AD5560采用了哪些封装形式？
[答:]	64引脚(10 mm × 10 mm)TQFP封装，带裸露焊盘（顶部） 72引脚(8 mm × 8 mm)倒装芯片BGA封装
[问:]	AD5560支持哪些接口？
[答:]	SPI/MICROWIRE/DSP兼容型接口
[问:]	测试前需要自己编程吗？
[答:]	是的
[问:]	测量的详细技术参数在哪看，在哪下载？
[答:]	在ADI 官网，www.analog.com.或联系世健的FAE 提供
[问:]	北京这边的如何联系ate技术支持
[答:]	世健北京FAE 唐工 18600014215
[问:]	AD5560可提供电流范围？
[答:]	1.内部±5 ?A、±25 ?A、±250 ?A、±2.5 mA、±25 mA ，2.外部500mA和1.2A
[问:]	PMU的电流输出能力是否包含芯片自身的电流损耗？
[答:]	不包括
[问:]	ADI的测试设备主要测试IC的什么特性？
[答:]	1. 晶圆探针测试（Chip probing简称CP）. 2. 终测（Final Test 简称FT)：芯片封装完毕后进行测试
[问:]	这个是ADI的什么产品？
[答:]	ATE 产品，包括PMU,DPS 和PE
[问:]	AD5522各通道都有哪些功能？
[答:]	FI,FV,FN,MV
[问:]	ADI测试机有哪些优异性能？
[答:]	单板集成度高，便于批量集成化
[问:]	ADI 的测试设备适合什么样的IC测试？
[答:]	数模混合IC
[问:]	在半导体测试时，有好的Vf测试方案吗？
[答:]	请参考AD5522
[问:]	模拟IC和数字IC的ATE方案有何不同?
[答:]	数字IC更倾向于数据吞吐量，模拟IC 输入，输出的能力
[问:]	目前都有哪些具体的应用案例？
[答:]	AD5560，ADATE320 已在国内某芯测厂使用
[问:]	ADI提供采样芯片？
[答:]	根据芯片需要测量参数的极限参数来确定ADC型号
[问:]	ADI在国内的客户主要有哪些？哪些领域的？
[答:]	ADI ATE测试方案的优势在于数模混合领域芯片测试
[问:]	请问DPS能够支撑最大电压等级是多大
[答:]	DSP单芯片25V，可以通过外部括压方案，实现更高电压范围测量
[问:]	ADI应用在测试机上的解决方案在市场中有哪些优势？
[答:]	单板集成度高，便于集成。
[问:]	adi 对ATE测试什么芯片
[答:]	AD5560,AD5522,ADATE318
[问:]	如何选用合适的CPU?
[答:]	根据单板测试数量，以及需要测试项的最高数据量
[问:]	应用场景有哪些地方？
[答:]	数模混合芯片的测试
[问:]	ADI可提供那些产品?
[答:]	PMU和DPS 产品:AD5520 AD5560;PE 产品：ADATE318/ADATE320
[问:]	能够测试什么参数供参考?
[答:]	芯片数据手册中参数项都是ATE设备完成测试的
[问:]	ATE系统支持的通讯方式主要有哪些？是否支持高速的以太网通讯？
[答:]	这部分功能ATE设备厂家自己设计。
[问:]	这些设备都有什么功能?
[答:]	可以参照具体芯片数据手册中的参数项
[问:]	ate 用于哪些环境？
[答:]	芯片或晶圆的测试与终测
[问:]	ATE系统是国产的吗
[答:]	ADI已经支持部分国内企业研发芯片测试设备
[问:]	ATE测试效率的提升与什么有关？
[答:]	提升整机测试通道数量
[问:]	目前国内的测试市场怎么样？
[答:]	国产数模混合类芯片测试已经开始批量
[问:]	ADI有在做ATE产品吗？
[答:]	PMU产品：AD5520,AD5560 PE产品：ADATE318,ADATE320
[问:]	参数测量单元是作为一个模块供应吗？
[答:]	后面还需要接MCU等控制芯片
[问:]	有没有资料提供下载？
[答:]	请提供邮箱
[问:]	是即插/装即用的吗?
[答:]	不是
[问:]	ADI助力半导体自动测试设备发展有哪些优势产品？
[答:]	PE产品：ADATE320,ADATE318
[问:]	ADI助力半导体自动测试设备发展有哪些优势产品？
[答:]	PMU产品：AD5520,AD5560
[问:]	ATE测试系统一般标准配置是怎样的？
[答:]	MCU/FPGA,时钟芯片，激励信号源（PE 模组的里DRIVER提供），反馈接收,PMU 模组，电源模组（DPS)，负载等等
[问:]	adi提供的半导体测试方案都可以测试哪些器件？可以测试ADC和微处理器芯片吗？
[答:]	可以测试MCU，ADC,DAC,DSP，CPU,GPU，电源芯片，IGBT，MEMORY，LED驱动，RF 芯片等等都可以
[问:]	如何保证一台半导体自动检测设备的速度、稳定性和可靠性？最多能提供多少个测试通道，时钟频率能达到多少?
[答:]	整理可靠性部分需要ATE厂商进行测试，ADI主要提供可行的技术方案。测试的通道数通常由IC厂商每天的IC产能和测试时间来决定所需要总通道数量，然后在评估每台通道数量。时钟数量由具体芯片决定
[问:]	请问ADI的ATE解决方案能提供那些测试软件?
[答:]	目前没有
[问:]	ADI提供的IC测试应用方案包括软件吗？
[答:]	ADI提供的技术服务主要针对硬件方案
[问:]	ATE目前最多支持多少通道并行测试？
[答:]	目前芯片ADATE320是2通道，即将release adate334 是4通道
[问:]	测试的范围包括哪些方面
[答:]	测试范围是依据IC工作、待机范围决定。
[问:]	产品有几种
[答:]	3种，PMU测试,PE测试，DPS 模组
[问:]	能自动测试那些项目及参数？
[答:]	静态/动态电压电流，管脚开路/短路，电流电压阈值，数字芯片时序等
[问:]	ATE产品线包括哪些产品？
[答:]	ADATE318，AD5522,AD5560
[问:]	ATE测试机可以测试出产品元件的哪些参数？
[答:]	PMU 模组测试电压/电流，如拉电池/灌电流，VOH.VOL, 开/短路等。PE 测试I/O性能，时序等，
[问:]	ATE测试机可以测试出产品元件的哪些参数？
[答:]	需要测试的参数是芯片厂家来指定，ADI技术团队可以协助帮助在ATE设备中实现这些参数的检测，比如O/S,端口电平，以及特殊引脚功能
[问:]	ADI测试方案有哪些特点和优势？
[答:]	集成度高，支持多通道，提高通道密度，节省测试成本。降低功耗。
[问:]	ATE测试在GPU和CPU上区别大吗？
[答:]	CPU，GPU属于数字芯片，在硬件方便相应IO端口的相应时间会有区别
[问:]	有哪些具体应用案例？
[答:]	目前是针对近年来国产芯片的量产，包括MCU，LED,摄像头CMOS等
[问:]	ADI自动测试设备有哪些
[答:]	这部分是依据客户芯片的需求，ADI可以协助解决该需求的测试方案，详情请联系本地代理商团队
[问:]	请问对于DSP类产品都可以进行哪些类型的测试？
[答:]	基本上等同于数模混合型芯片的测试需求，包括基础的OS，还有数字IO上升，下降时间，端口电平
[问:]	有哪些具体案例？
[答:]	目前有案例主要面向近年来国产芯片大规模使用，包括摄像头，MCU，LED等
[问:]	ADI在半导体自动测试方面的创新点？
[答:]	在数模混合芯片的测试，单板集成度有很大优势
[问:]	ADI有哪些半导体自动测试设备的方案？
[答:]	主要针对数模混合型芯片的测试方案

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