在线座谈

按测试测量技术点播

• 2012年5月24日

  10:00~12:00

  

  • 安捷伦为提高生产力实现在线测试（ICT）自动化
    多线程和并行测试将加快您的测试进程
  • 简 介：近年来，中国电子行业一直在令人瞩目的高歌猛进中，许多电子产品制造商超越消费电子、计算和服务器市场，向增长中的汽车电子产业进军。中国不再仅仅专注于低价格，因为它的目标是出口市场。“福布斯 (Forbes)”杂志最近一篇文章指出几年来中国汽车制造商已经在电动汽车的研制和开发上投入了大量资金，中国将在插入式动力车市场展开竞争。 作为有可能在当前..
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• 2012年5月17日

  10:00~12:00

  

  • 如何利用赛灵思解决方案加速高速串行设计
  • 简 介：赛灵思7系列FPGA提供了高达2.78 TB/s的业界最高总带宽。赛灵思最大的FPGA集成有96个13.1 Gb/s的收发器，可提供的带宽超越了行业任何其他竞争器件。在本次网络研讨会中，我们将通过最常见设计步骤的介绍，与各位工程师讨论如何使用赛灵思完整的工具套件和IP来最大限度地提高生产力和缩短上市时间，同时您还将了解到赛灵思可扩展的串行解决方案如何在保证最高..
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• 2011年12月7日

  10:00~12:00

  

  • 面向高清多媒体处理的评估与测试解决方案SEED-VPM6467
  • 简 介：SEED-VPM6467解决方案主要面向高清多媒体评估与测试。兼容当前多数高清视频接口，具备CameraLink、YCbCr输入与输出、HDSDI输入与输出、HDMI输入与输出等多种制式的互连与互通能力。 同时，系统采用高性能的Davinci多媒体处理平台与Xilinx的高端FPGA的V4系列，使系统具备处理复杂多媒体各类压缩需求。 平台以Davinci系列的DM6467T多媒体处理器与Xilinx的FP..
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• 2011年7月27日

  10:00~12:00

  

  • 频率计的新技术和新应用
  • 简 介：频率计作为一种高精度的频率测试仪表被广泛应用，泰克推出的第四代全新频率计不仅测试精度更高，速度更快.同时大大扩展了频率计的应用，可以用于雷达，跳频，计数，通信等测试中.本次主要针对泰克频率计的特点，着重阐述新的技术和频率计的各种全新应用.
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• 2011年7月19日

  10:00~12:00

  

  • 如何合理有效地进行大功率、高亮度LED电性测试
  • 简 介：主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。
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• 2011年6月21日

  10:00~12:00

  

  • 超快速IV测试技术 – 半导体器件特性测试的变革
  • 简 介：本研讨会介绍了吉时利仪器最新的超快速IV测量技术（Ultra-Fast IV），及其如何影响最新的半导体器件特性表征。通过使用超快速IV量测技术，我们的用户可以得到以往无法得到但却至关重要的器件特性。 这一技术尤其对于那些在半导体器件研究前沿的客户（如High-K材料，SOI工艺，有机半导体体，新型存储器件，纳米器件等）尤为重要。
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• 2011年5月24日

  10:00~12:00

  

  • 高亮度LED电气测试挑战和解决方案
  • 简 介：随着LED逐渐被广泛应用到各个领域,特别是高亮度的LED应用的高速发展和普遍使用,象汽车,照明,路灯等等.LED的电性测试也变的多样性,提出了更高的测试要求并更具挑战性,要很好的解决这些测试问题给LED提供准确可靠的测试结果,必须要了解问题产生的根源,才能更清楚的知道如何克服测试误差。 通过此次研讨会大家可以更清楚的了解以下问题: 1. LED自发热效应以及..
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• 2010年12月23日

  10:00~12:00

  

  • 嵌入式产品测试解决方案
  • 简 介：近些年来，嵌入式产业发展迅猛，嵌入式系统产品正不断渗透各个行业。随着嵌入式系统应用的不断深入和产业化程度的不断提升，对嵌入式产品质量 提出了更加严格的要求。嵌入式测试 成为一项极为重要的工作。 通过本次研讨会，您将了解到：     1.嵌入式产品测试过程（融合CMMI/ISO26262的体系要求）     2.代码级测..
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• 2010年8月24日

  10:00~12:30

  

  • 泰克DDR1/2/3原理和自动化测试方案
  • 简 介：DDR目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 如何理解DDR物理层和协议层原理，如何对DDR数据进行读写分离，如何对DDR进行自动化测试，如何灵活地精确地探测BGA封装的DDR信号，如何对DDR的协议层进行分析，如何对PCB板件做阻抗和S参..
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• 2010年6月24日

  10:00~12:00

  

  • 数据采集（DAQ）未来技术展望
  • 简 介：基于PC的数据采集（DAQ）将软硬件相结合，提供了一个灵活的、用户自定义的系统，高效实现采集、分析与显示。但随着各种商业可用技术的不断发展（FPGA、多核以及PXIe等），数据采集也实现了演化，未来的数据采集技术将远远超出你的想象，并被用于各种新兴的应用领域中。在本讲座中，您将领略NI作为全球DAQ技术与市场的领跑者，对于未来的数据采集发展是如何..
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